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Funcionarios participaron de la Semana SIM 2017
Publicado: 10/12/17 07:39:a. m.

El evento se realizó en el Centro de Investigaciones de Metrología- El Salvador. El Director del Organismo Nacional de Metrología, Ing. César Riveros y el Jefe de la Unidad de Metrología Científica e Industrial, Lic. Arnaldo Florencio, representaron a nuestra institución.

Durante la semana se realizó la Asamblea General del SIM, el Foro de Metrología Legal y diversas reuniones con el QSTF (Quality System Task Force); que es un grupo conformado por miembros del SIM para realizar la revisión de los Sistemas de Gestión de Calidad de los institutos nacionales de Metrología, con el Comité de Revista de Acuerdo y con el Instituto Físico Técnico Alemán (The Physikalisch Technische Bundesanstalt -PTB).

El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) es el resultado de un amplio acuerdo entre organizaciones nacionales de metrología de 34 naciones de las Américas. La misión del SIM es promover y apoyar una infraestructura de medición integrada en las Américas que permita a los Institutos Nacionales de Metrología (INM) el estímulo a la innovación, la competitividad, el comercio, la seguridad de los consumidores y el desarrollo sostenible a través de la participación efectiva en la comunidad internacional de metrología.


Temas / Categorías
Metrología

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